标准号:GB/T 4937.4-2012

中文标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
标准状态: 现行
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中国标准分类号(CCS)
L40
国际标准分类号(ICS)
31.080.01
发布日期
2012-11-05
实施日期
2013-02-15
主管部门
工业和信息化部(电子)
归口部门
工业和信息化部(电子)
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
2012年第28号公告
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