标准号:GB/T 24581-2022 |
中文标准名称:硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | |
英文标准名称:Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method | |
标准状态: 现行 | |
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