标准号：GB/T 4937.3-2012 采
中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination
标准状态： 现行
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中国标准分类号（CCS）
L40
国际标准分类号（ICS）
31.080.01
发布日期
2012-11-05
实施日期
2013-02-15
主管部门
工业和信息化部（电子）
归口部门
工业和信息化部（电子）
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
2012年第28号公告
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