标准号：GB/T 32188-2015

中文标准名称：氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
英文标准名称：The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
H21
国际标准分类号（ICS）
77.040
发布日期
2015-12-10
实施日期
2016-11-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
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