标准号：GB/T 36477-2018

中文标准名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法
英文标准名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
L56
国际标准分类号（ICS）
31.200
发布日期
2018-06-07
实施日期
2019-01-01
主管部门
工业和信息化部（电子）
归口部门
工业和信息化部（电子）
发布单位
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
备注
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