标准号：GB/T 4937.35-2024 采

中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查
英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
标准状态： 现行
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