标准号：GB/T 45719-2025 采
中文标准名称：半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
英文标准名称：Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
标准状态： 即将实施
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中国标准分类号（CCS）
L40
国际标准分类号（ICS）
31.080.01
发布日期
2025-05-30
实施日期
2025-09-01
主管部门
工业和信息化部（电子）
归口部门
工业和信息化部（电子）
发布单位
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
备注
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