标准号：GB/T 42263-2022

中文标准名称：硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
英文标准名称：Determination of nitrogen content in silicon single crystal—Secondary ion mass spectrometry method
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
H17
国际标准分类号（ICS）
77.040
发布日期
2022-12-30
实施日期
2023-04-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
备注
  • 版权所有 侵权必究
  • 主管：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
  • 主办：国家市场监督管理总局国家标准技术审评中心
  • 技术支持：北京中标赛宇科技有限公司
  • 支持电话：010-82261036
  • 备案号：京ICP备18022388号-1