标准号：GB/T 32651-2016

中文标准名称：采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
英文标准名称：Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
H82
国际标准分类号（ICS）
29.045
发布日期
2016-04-25
实施日期
2016-11-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
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