标准号：GB/T 32278-2025

中文标准名称：碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法
英文标准名称：Test method for thickness and fltaness of monocrystalline silicon carbide wafers
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
H 21
国际标准分类号（ICS）
77.040
发布日期
2025-08-01
实施日期
2026-02-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
备注
  • 版权所有 侵权必究
  • 主管：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
  • 主办：国家市场监督管理总局国家标准技术审评中心
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