标准号：GB/T 1553-2009

中文标准名称：硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
英文标准名称：Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay
标准状态： 废止
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中国标准分类号（CCS）
H80
国际标准分类号（ICS）
29.045
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
2010-06-01实施,代替GB/T 1553-1997
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