标准号：GB/T 44558-2024

中文标准名称：III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法
英文标准名称：Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
H21
国际标准分类号（ICS）
77.040
发布日期
2024-09-29
实施日期
2025-04-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
备注
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