标准号：GB/T 19403.1-2003 采 |
| 中文标准名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路) | |
| 英文标准名称：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits) | |
| 标准状态： 现行 | |
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