标准号：GB/T 35007-2018

中文标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
L56
国际标准分类号（ICS）
31.200
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
主管部门
工业和信息化部（电子）
归口部门
工业和信息化部（电子）
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
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