标准号：GB/T 43088-2023

中文标准名称：微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
英文标准名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
G04
国际标准分类号（ICS）
71.040.50
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
备注
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