标准号：GB/T 47625-2026 采 |
| 中文标准名称：精细陶瓷 平行光束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶圆）结晶质量 | |
| 英文标准名称：Fine ceramics—Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam | |
| 标准状态： 即将实施 | |
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