标准号：GB/T 43087-2023 采
中文标准名称：微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
英文标准名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
标准状态： 现行
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中国标准分类号（CCS）
N33
国际标准分类号（ICS）
71.040.50
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
备注
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