标准号：GB/T 22572-2008 采
中文标准名称：表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
英文标准名称：Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
标准状态： 现行
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中国标准分类号（CCS）
G04
国际标准分类号（ICS）
71.040.40
发布日期
2008-12-11
实施日期
2009-10-01
主管部门
中国科学院
归口部门
中国科学院
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
2009-10-01实施
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