标准号：GB/T 20176-2006 采 |
| 中文标准名称：表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 | |
| 英文标准名称：Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials | |
| 标准状态： 现行 | |
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