标准号：GB/T 33657-2017

中文标准名称：纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
英文标准名称：Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
L56
国际标准分类号（ICS）
31.200
发布日期
2017-05-12
实施日期
2017-12-01
主管部门
中国科学院
归口部门
中国科学院
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
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