标准号:GB/T 43313-2023

中文标准名称:碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法
英文标准名称:Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics
标准状态: 现行
中国标准分类号(CCS)
H21
国际标准分类号(ICS)
77.040
发布日期
2023-11-27
实施日期
2024-06-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
备注
版权所有:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 京ICP备18022388号-1
网站技术支持:国家市场监督管理总局国家标准技术审评中心 支持电话:010-82261056