标准号:GB/T 43313-2023 |
中文标准名称:碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法 | |
英文标准名称:Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics | |
标准状态: 现行 | |
版权所有:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 京ICP备18022388号-1 网站技术支持:国家市场监督管理总局国家标准技术审评中心 支持电话:010-82261056 |
![]() ![]() |