标准号：GB/T 24468-2025

中文标准名称：半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）测量方法
英文标准名称：Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)
标准状态： 即将实施
中国标准分类号（CCS）
L85
国际标准分类号（ICS）
17.040.30
发布日期
2025-10-05
实施日期
2026-05-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
备注
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