标准号：GB/T 14031-1992

中文标准名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
英文标准名称：General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
L55
国际标准分类号（ICS）
31.200
发布日期
1992-12-17
实施日期
1993-08-01
主管部门
工业和信息化部（电子）
归口部门
工业和信息化部（电子）
发布单位
国家技术监督局
备注
1993-08-01实施
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