标准号：GB/T 24581-2022

中文标准名称：硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
英文标准名称：Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
H17
国际标准分类号（ICS）
77.040
发布日期
2022-03-09
实施日期
2022-10-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
备注
  • 版权所有 侵权必究
  • 主管：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
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