标准号：GB/T 34002-2017 采 |
| 中文标准名称：微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 | |
| 英文标准名称：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures | |
| 标准状态： 现行 | |
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