标准号：GB/T 14849.4-2014

中文标准名称：工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文标准名称：Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 4：Determination of impurity contents―Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
H12
国际标准分类号（ICS）
77.120.10
发布日期
2014-12-05
实施日期
2015-08-01
主管部门
中国有色金属工业协会
归口部门
中国有色金属工业协会
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
2014年第27号公告
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