标准号：GB/T 30453-2013

中文标准名称：硅材料原生缺陷图谱
英文标准名称：Metallographs collection for original defects of crystalline silicon
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
H80
国际标准分类号（ICS）
29.045
发布日期
2013-12-31
实施日期
2014-10-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注
  • 版权所有 侵权必究
  • 主管：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
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