标准号:GB/T 4937.30-2018 采 |
| 中文标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 | |
| 英文标准名称:Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing | |
| 标准状态: 现行 | |
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