标准号:GB/T 27760-2011 采 |
中文标准名称:利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 | |
英文标准名称:Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps | |
标准状态: 现行 | |
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