标准号：GB/T 48168-2026 采 |
| 中文标准名称：半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法 | |
| 英文标准名称：Semiconductor devices—Reliability test method by inductive load switching stress for gallium nitride(GaN) transistors | |
| 标准状态： 即将实施 | |
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