标准号：GB/T 47239.1-2026 采 |
| 中文标准名称：半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法 | |
| 英文标准名称：Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates | |
| 标准状态： 即将实施 | |
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