标准号：GB/T 4937.31-2023 采

中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）
英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices（internally induced）
标准状态： 现行
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