标准号：GB/T 11685-2003 采
中文标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文标准名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
标准状态： 现行
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中国标准分类号（CCS）
F80
国际标准分类号（ICS）
27.120.01
发布日期
2003-07-07
实施日期
2004-01-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
备注
2004-01-01实施,代替GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988
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