标准号：GB/T 19403.1-2003 采

中文标准名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
英文标准名称：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
标准状态： 现行
实施信息反馈 该标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统不提供文本阅读服务