标准号:GB/T 15651.3-2003 采 |
| 中文标准名称:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 | |
| 英文标准名称:Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods | |
| 标准状态: 现行 | |
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