标准号：GB/T 24576-2009 采 |
| 中文标准名称：高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 | |
| 英文标准名称：Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction | |
| 标准状态： 现行 | |
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