标准号：GB/T 26068-2018

中文标准名称：硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
英文标准名称：Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
标准状态： 现行
中国标准分类号（CCS）
H21
国际标准分类号（ICS）
77.040
发布日期
2018-12-28
实施日期
2019-11-01
主管部门
国家标准委
归口部门
国家标准委
发布单位
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
备注
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