标准号：GB/T 45770-2025 采 |
| 中文标准名称：表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序 | |
| 英文标准名称：Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement | |
| 标准状态： 现行 | |
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