标准号：GB/T 4937.40-2025 采 |
| 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法 | |
| 英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 40: Board level drop test method using a strain gauge | |
| 标准状态： 现行 | |
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