标准号：GB/T 47239.9-2026 采 |
| 中文标准名称：半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法 | |
| 英文标准名称：Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells | |
| 标准状态： 即将实施 | |
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