标准号：GB/T 4937.41-2026 采 |
| 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法 | |
| 英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41：Test method for reliability of non-volatile memory devices | |
| 标准状态： 即将实施 | |
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