标准号：GB/Z 119-2026 采

中文标准名称：晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测
英文标准名称：C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test—Detection
标准状态： 现行
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中国标准分类号（CCS）
K83
国际标准分类号（ICS）
27.160
发布日期
2026-01-04
主管部门
工业和信息化部（电子）
归口部门
工业和信息化部（电子）
发布单位
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
备注
  • 版权所有 侵权必究
  • 主管：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
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