标准号：GB/T 4937.44-2025 采 |
| 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法 | |
| 英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices | |
| 标准状态： 即将实施 | |
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