标准号：GB/T 4937.37-2025 采

中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法
英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
标准状态： 现行
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