标准号：GB/T 4937.38-2025 采

中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
标准状态： 现行
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